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A.直接晶體的三維取向信息
B.可以方便地獲得樣品的宏觀織構(gòu)
C.利用取向數(shù)據(jù)集，可以計算出極圖、反極圖、取向分布函數(shù)
D.如果樣品織構(gòu)相對均勻，EBSD所得織構(gòu)信息接近于X射線衍射的結(jié)果

A.分析樣品面積大，數(shù)據(jù)統(tǒng)計性
B.分析精度高，檢測速度快
C.樣品制備簡單
D.空間分辨高

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