A.直接晶體的三維取向信息B.可以方便地獲得樣品的宏觀織構(gòu)C.利用取向數(shù)據(jù)集,可以計(jì)算出極圖、反極圖、取向分布函數(shù)D.如果樣品織構(gòu)相對(duì)均勻,EBSD所得織構(gòu)信息接近于X射線衍射的結(jié)果
A.分析樣品面積大,數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)性B.分析精度高,檢測(cè)速度快C.樣品制備簡(jiǎn)單D.空間分辨高
A.機(jī)械拋光B.電解拋光C.離子研磨