規(guī)準儀法測定中需要將通過針狀規(guī)準儀上相應間距的非針狀顆粒逐粒對試樣進行片狀顆粒鑒定，挑出厚度小于片狀規(guī)準儀上相應孔寬能通過者，為片狀顆粒。