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A.家族性缺陷可能是由運行檢修不當引起
B.家族性缺陷設(shè)備一定是同一批次的設(shè)備
C.家族性缺陷可能由于結(jié)構(gòu)設(shè)計不當引起
D.家族性缺陷設(shè)備可能是不同類型的設(shè)備

A.介質(zhì)損耗因數(shù)測量是其例行試驗項目
B.可以在工頻電壓下測量，也可以在0.1Hz低頻電壓下測量
C.介損值大于0.002時，應(yīng)進一步試驗
D.試驗電壓不應(yīng)超過2500V

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