A.家族性缺陷可能是由運(yùn)行檢修不當(dāng)引起 B.家族性缺陷設(shè)備一定是同一批次的設(shè)備 C.家族性缺陷可能由于結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不當(dāng)引起 D.家族性缺陷設(shè)備可能是不同類型的設(shè)備
A.介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)量是其例行試驗(yàn)項(xiàng)目 B.可以在工頻電壓下測(cè)量,也可以在0.1Hz低頻電壓下測(cè)量 C.介損值大于0.002時(shí),應(yīng)進(jìn)一步試驗(yàn) D.試驗(yàn)電壓不應(yīng)超過(guò)2500V
A.運(yùn)行中持續(xù)電流檢測(cè)的基準(zhǔn)周期是1年 B.底座絕緣電阻的基準(zhǔn)周期是6年 C.U1mA及在0.75U1mA下漏電流測(cè)量,基準(zhǔn)周期為3年 D.如果已有3年以上未檢查放電計(jì)數(shù)器功能檢查,有停電機(jī)會(huì)時(shí)進(jìn)行本項(xiàng)目