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判斷題

低勵(lì)限制（UEL）性能試驗(yàn)要求對(duì)于不同的有功負(fù)荷，在UEL限制點(diǎn)附近進(jìn)行-2%—-10%階躍擾動(dòng)，AVR裝置應(yīng)工作平穩(wěn)，不發(fā)生異常震蕩。

答案：正確

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AVR模型的SCL比較試驗(yàn)要求反時(shí)限特性動(dòng)作值、限制值和返回值與AVC裝置一致。

答案：錯(cuò)誤

勵(lì)磁系統(tǒng)的滅磁裝置應(yīng)滿足：滅磁過程中，勵(lì)磁繞組反向電壓應(yīng)控制在不低于出廠試驗(yàn)時(shí)繞組對(duì)地耐壓試驗(yàn)電壓幅值的50%，不超過出廠試驗(yàn)時(shí)繞組對(duì)地耐壓試驗(yàn)電壓幅值的30%

答案：錯(cuò)誤