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問答題

【簡答題】為什么可以利用x-射線衍射測定晶塊尺寸和晶格畸變？試簡述測定的方法和主要步驟。

答案：

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答案：

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答案：質(zhì)厚襯度：入射電子透過非晶樣品時，由于樣品不同微區(qū)間存在原子序數(shù)或厚度的差異，導(dǎo)致透過不同區(qū)域落在像平面上的電子數(shù)不同，...

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