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問答題

【簡答題】簡述射線檢測(cè)呈現(xiàn)缺陷的衰減過程。

答案：檢測(cè)時(shí)，射線透過被檢測(cè)物體，使置于被檢測(cè)物后的感光底片感光，通過暗房的顯影處理，就可以顯現(xiàn)出射線透過被檢測(cè)物的內(nèi)部情況，...

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【簡答題】簡述射線檢測(cè)的原理。

答案：射線能穿透普通光線所不能穿透的物質(zhì)，并在穿透中表現(xiàn)出有一定規(guī)律的衰減性；射線還能使某些物質(zhì)產(chǎn)生化學(xué)作用，如使感光底片感光...

【簡答題】磁粉檢測(cè)時(shí)，如何使磁粉顯現(xiàn)達(dá)到最佳程度？

答案：磁粉痕跡的顯現(xiàn)程度與磁力線方向有關(guān)，當(dāng)缺陷是線狀缺陷，而與磁力線垂直，則顯現(xiàn)最清楚；但當(dāng)磁力線與線狀缺陷平行，則不易顯現(xiàn)...