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問答題
【簡答題】進(jìn)行X射線熒光定量分析時(shí)，可采用內(nèi)標(biāo)法，內(nèi)標(biāo)物與其它色譜法中的內(nèi)標(biāo)物有哪兩個(gè)不同的特殊要求？
答案：
內(nèi)標(biāo)物元素與被測元素的激發(fā)X射線波長相近；基體對(duì)二者的X射線熒光吸收相近，即基體效應(yīng)可相互抵消。
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問答題
【簡答題】X射線熒光定量分析時(shí)，采用比較標(biāo)準(zhǔn)法，其適宜的分析對(duì)象的特征是什么？其標(biāo)準(zhǔn)樣的配制應(yīng)注意什么？
答案：
分析對(duì)象應(yīng)為常規(guī)的、樣品固定的、經(jīng)常要分析的樣品。標(biāo)準(zhǔn)樣的含量與被測樣相近，即信號(hào)強(qiáng)度相近。
問答題
【簡答題】蓋革計(jì)數(shù)器有哪兩個(gè)主要弱點(diǎn)？
答案：
蓋革計(jì)數(shù)器死時(shí)間較長，對(duì)中等強(qiáng)度以上的幅射無法準(zhǔn)確記數(shù)；不能分辨X射線的能量，選擇性較差。
