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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】為何用SEM分析非導(dǎo)電樣品前要對(duì)它進(jìn)行噴金或噴碳處理？如何利用SEM分析材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)？
答案：
由于進(jìn)入和離開樣品的電子數(shù)量不平衡，電子在樣品表面積聚產(chǎn)生放電現(xiàn)象，影響二次電子成像和背散射電子成像的效果，因此在SEM...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】特征X射線是如何產(chǎn)生的？利用特征X射線能得到樣品哪些信息？
答案：
樣品中原子的內(nèi)層電子被入射電子轟擊出來(lái)后，相鄰?fù)鈱幽芰枯^高的電子會(huì)迅速發(fā)生躍遷，填補(bǔ)內(nèi)層電子空位。由于原子內(nèi)外層電子存在...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】二次電子和背散射電子是如何產(chǎn)生的？它們的產(chǎn)率主要與什么因素有關(guān)？二次電子像和背散射電子像分別反映樣品什么信息？
答案：
二次電子是被入射電子轟擊出來(lái)的樣品核外電子，背散射電子是被樣品中原子反射出來(lái)的一部分入射電子；二次電子產(chǎn)率主要與入射電子...
