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應(yīng)用特高頻局部放電對GIS進(jìn)行檢測,放電信號在工頻相位的正、負(fù)半周均會出現(xiàn),且具有一定對稱性,放電幅值較分散,放電次數(shù)較少,則最可能的缺陷是()。
A.尖端放電;
B.絕緣內(nèi)部氣隙放電;
C.內(nèi)部懸浮放電;
D.自由顆粒放電。
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應(yīng)用特高頻局部放電對GIS進(jìn)行檢測,局部放電信號極性效應(yīng)不明顯,任意相位上均有分布,放電次數(shù)少,信號最大值一般在電壓峰值處,則最可能的缺陷是()。
A.尖端放電;
B.絕緣內(nèi)部氣隙放電;
C.內(nèi)部懸浮放電;
D.自由顆粒放電。
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單項選擇題
應(yīng)用特高頻局部放電對GIS進(jìn)行檢測,放電信號在工頻相位的正、負(fù)半周均會出現(xiàn),且具有一定對稱性,放電信號幅值很大,放電次數(shù)少,則最可能的缺陷是()。
A.尖端放電;
B.絕緣內(nèi)部氣隙放電;
C.內(nèi)部懸浮放電;
D.自由顆粒放電。
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