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判斷題

通過測量電阻性電流IR與電容性電流IQ之和可以判斷絕緣介質在交流電壓作用下的損耗情況稱為介質損耗角正切值。

答案：錯誤

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直流泄漏電流測量及直流耐壓試驗比絕緣電阻表測量絕緣電阻更易發(fā)現(xiàn)某些絕緣缺陷。

答案：正確

通過測量介質損耗角正切值可以檢查被試品是否存在絕緣受潮和劣化等缺陷。

答案：正確

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