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問答題

【簡答題】為什么用X射線粉末法測定晶胞參數(shù)時常用高角度數(shù)據(jù)（有時還根據(jù)高角度數(shù)據(jù)外推至θ=90°），而測定超細晶粒的結構時要用低角度數(shù)據(jù)（小角散射）？

答案：

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