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問(wèn)答題

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答案: 中測(cè):封裝前對(duì)完成加工的硅片上的所有芯片進(jìn)行的探針測(cè)試和電學(xué)測(cè)試,已選擇出可用的芯片。
成測(cè):對(duì)封裝后的芯片進(jìn)...
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