A.測試時,測點距構件邊緣不宜小于50mmB.測試時,測點距構件內轉角處的距離不宜小于30mmC.探頭與測點表面接觸時間宜保持1~2sD.探頭與測點表面應垂直接觸
A.檢測前宜采用零點校準,校準后方可測試B.應使用與被測構件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準C.也可用待涂覆構件進行校準D.檢測期間關機再開機后,可不重新校準
A.120B.125C.150D.175