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問答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述Defect的來源？

答案： ① 素材本身：包括wafer，氣體，純水，化學(xué)藥品。
② 外在環(huán)境：包含潔凈室，傳送系統(tǒng)與...

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【簡(jiǎn)答題】何謂Defect？

答案： Wafer上存在的有形污染與不完美，包括
① Wafer上的物理性異物（如：微塵，工藝殘留物，不正常...

【簡(jiǎn)答題】YE工程師的主要工作內(nèi)容？

答案： ① 負(fù)責(zé)生產(chǎn)過程中異常缺陷事故的追查分析及改善工作的調(diào)查與推動(dòng)。
② 評(píng)估并建立各項(xiàng)缺陷監(jiān)...

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