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單項(xiàng)選擇題

單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋ǎ?/h4>

A.近場干擾
B.材質(zhì)衰減
C.盲區(qū)
D.折射

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單項(xiàng)選擇題

儀器的垂直線性好壞會影響（）

A.缺陷的當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板的使用
C.缺陷的定位
D.以上都對

單項(xiàng)選擇題

儀器水平線性的好壞直接影響（）

A.缺陷性質(zhì)判斷
B.缺陷大小判斷
C.缺陷的精確定位
D.以上都對

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