A.ANOVA B.量具的績(jī)效曲線 C.極差方法 D.平均值和極差的方法
A.探測(cè)在確定偏倚的期間的一般起因 B.執(zhí)行重復(fù)性和再現(xiàn)性的研究 C.探測(cè)任何超時(shí)的特殊起因,例如設(shè)備磨損,運(yùn)作不良的裝備 D.為在生產(chǎn)過(guò)程中測(cè)量的特性的控制圖設(shè)定限值
A.零件的實(shí)際測(cè)量 B.觀察值和可接受的參考值之間的一致接近程度 C.儀器的最小刻度值 D.觀察和測(cè)量平均值和參考值之間的區(qū)別