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探頭晶片尺寸大時(shí),近場(chǎng)的覆蓋范圍也大,晶片小時(shí),近場(chǎng)的覆蓋范圍也小。但在遠(yuǎn)場(chǎng)處由于指向性的關(guān)系,大尺寸晶片的覆蓋范圍有可能小于尺寸晶片。
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探頭的選擇主要是對(duì)晶片尺寸、角度、頻率等幾個(gè)方面選擇。
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檢測(cè)條件有頻率、探頭、檢測(cè)部位及其粗糙度、檢測(cè)靈敏度。
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