如果應(yīng)用GIS超聲波法相位模式檢測(cè)到的圖譜如下圖所示,其缺陷類(lèi)型最可能為()。
A.自由顆粒; B.懸浮放電; C.尖端放電; D.機(jī)械振動(dòng)。
A.斷路器; B.隔離開(kāi)關(guān); C.避雷器; D.電流互感器。
A.A類(lèi); B.B類(lèi); C.C類(lèi); D.D類(lèi)。