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單項選擇題

干涉顯微鏡的測量范圍為（）μm的微觀不平度十點高度。

A.0.01～0.1
B.0.02～0.2
C.0.05～0.8
D.0.03～0.3

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干涉顯微鏡用來測量（）誤差。

A.工件外徑
B.角度
C.分度
D.表面粗糙度

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光切顯微鏡用來測量（）誤差。

A.表面粗糙度
B.角度
C.分度
D.工件外徑