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離子注入中靜電掃描的主要缺點是離子束不能垂直轟擊硅片,會導致光刻材料的陰影效應,阻礙離子束的注入。
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離子注入會將原子撞擊出晶格結構而損傷硅片晶格,高溫退火過程能使硅片中的損傷部分或絕大部分得到消除,摻入的雜質也能得到一定比例的電激活。
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熱擴散中的橫向擴散通常是縱向結深的75%~85%。先進的MOS電路不希望發(fā)生橫向擴散,因為它會導致溝道長度的減小,影響器件的集成度和性能。
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