A.TDI測試數(shù)據(jù)輸入B.TDO測試數(shù)據(jù)輸出C.TEN測試使能D.TCK測試時鐘輸入
A.PLAB.FPGAC.PROMD.GAL
A.基于查找表結(jié)構(gòu)B.基于與陣列可編程C.基于或陣列可編程D.基于乘積項邏輯可編程