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單項(xiàng)選擇題
CSK-IB試塊將IIW試塊的Φ50孔改為Φ40、Φ44、Φ50臺(tái)階孔,其目的是()
A、測(cè)定斜探頭K值
B、測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C、測(cè)定斜探頭分辨力
D、以上全是
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單項(xiàng)選擇題
CSK-IIIA試塊上的Φ1x6mm橫孔,在超聲遠(yuǎn)場(chǎng),其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與()相同
A、長(zhǎng)橫孔
B、平底孔
C、球孔
D、b和c
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填空題
在按鋼板標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算缺陷面積時(shí),若兩塊缺陷的間距小于()時(shí),這兩塊缺陷可作為()處理,其面積為()
答案:
100mm;單塊缺陷;兩塊缺陷面積之和
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