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測試設(shè)備發(fā)生故障的原因通常有:();();();();();();以及由于()等。
答案:
元器件變值損壞;絕緣不良造成漏電和短路;焊點(diǎn)的虛焊和脫焊;電路斷線;接插件接觸不良;活動(dòng)部件失常;外界原因造成的短路
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目前,具有代表性的高性能新型微處理器的工作電壓都已從()V降到了()V左右。
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5;3
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目前,所有的RISC(精簡指令集計(jì)算技術(shù))微處理器都采用了()、()和()技術(shù)。
答案:
超標(biāo)量;超流水線;超長指令字
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