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填空題

探頭晶片尺寸（），近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加，對(duì)近表面的缺陷探測(cè)不利。

答案：增大

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斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面（）或成一定角度的缺陷。

答案：垂直

探頭的選定頻率下限則由探傷靈敏度、脈沖寬度及（）決定。

答案：指向性

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