A.設(shè)計(jì)問(wèn)題界定（D）階段
B.設(shè)計(jì)參數(shù)優(yōu)化（O）階段
C.設(shè)計(jì)驗(yàn)證（V）階段
D.設(shè)計(jì)問(wèn)題識(shí)別（I）階段

A.只要測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)沒(méi)有問(wèn)題，沒(méi)有必要分析測(cè)量系統(tǒng)的重復(fù)性和再現(xiàn)性
B.只要測(cè)量系統(tǒng)的重復(fù)性和再現(xiàn)性沒(méi)有問(wèn)題，說(shuō)明設(shè)備校準(zhǔn)一定沒(méi)有問(wèn)題
C.如果測(cè)量設(shè)備沒(méi)有經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，測(cè)量系統(tǒng)的重復(fù)性和再現(xiàn)性一定很差
D.即使設(shè)備經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，測(cè)量系統(tǒng)的重復(fù)性和再現(xiàn)性也不一定沒(méi)有問(wèn)題