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判斷題

對(duì)于良好絕緣的tanδ測(cè)試，在額定電壓以下時(shí)，隨著試驗(yàn)電壓U的升高而降低。

答案：錯(cuò)誤

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工頻耐壓試驗(yàn)時(shí)，與保護(hù)間隙串接的保護(hù)電阻器，其阻值通常取1Ω/V。

答案：正確

直流泄漏電流測(cè)量施加的直流試驗(yàn)電壓較高，屬于破壞性試驗(yàn)。

答案：錯(cuò)誤

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