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判斷題

在一般情況下，介損tgδ試驗(yàn)主要反映設(shè)備絕緣整體缺陷，而對(duì)局部缺陷反映不靈敏。

答案：正確

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幾個(gè)試品并聯(lián)在一起進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，若測(cè)得的電流為I，則流過(guò)每一個(gè)試品的電流都小于I。

答案：正確

測(cè)量絕緣電阻可以有效地發(fā)現(xiàn)固體絕緣非貫穿性裂紋。

答案：錯(cuò)誤

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